（一社）KEC関西電子工業振興センターより、信頼性セミナー開催のご案内をさせていただきます。

　長期使用製品の製品寿命をどう考え、安全性をどのように追求するかという各社共通のテーマに対し、KEC信頼性分科会では、製品のバスタブカーブ域は勿論のこと、ライフエンドの往生際の故障メカニズムに着目した信頼性、安全性確保に取り組んでまいりました。
　今回のセミナーでは、改めて製品事故原因を見つめ直し、短期評価を見据えて検討を行ってきた内容を報告します。

１.日時　2017年 7月 11日(火）13：00～17：00

　
２.場所　電子会館４階　会議室Ａ　（大阪市北区西天満6-8-7）

　
３.内容
　・「製品安全に役立つ劣化メカニズム」　日本信頼性学会　元理事 　 伊藤　貞則 氏

　・「ケーブル屈曲寿命予測試験の実施例」　(株)島津製作所 総合デザインセンター　大橋　恒久 氏

　・「低温における電源ケーブルの屈曲寿命試験」　任天堂(株)　製品技術部 　大谷　一海 氏

　・「部品発熱による短絡試験事例の紹介」　オムロン(株)　グローバルものづくり革新本部　岩谷 康次郎 氏

　・「ＨＡＬＴにおける振動ストレス効果の検討」　エスペック(株)　テストコンサルティング本部　岡本　学　 氏

　・「車載用情報機器コネクタのＨＡＬＴ評価」　パナソニック(株)　プロダクト解析センター　 藤本　恵一 氏

４.受講料　ＫＥＣ会員：5,000円（非会員6,500円）

詳細／申込方法： 下記 URL から詳細ご確認／お申込みください。
　　 　　　　　　 https://www.kec.jp/seminar/reliability2017

問合せ先：　一般社団法人ＫＥＣ関西電子工業振興センター
　　　　　　専門委員会推進部　 事務局 河合 道雄
　　　　　　 TEL:0774-29-9041 E-mail：publication01@kec.jp